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ALD6710S是神州視覺(jué)全新研制的一款三維錫膏檢測(cè)設(shè)備3DSPI,配備雙方向投射光系統(tǒng)技術(shù),能**解決檢測(cè)過(guò)程中的陰影問(wèn)題與漫反射問(wèn)題,使錫膏三維檢測(cè)精度更高;同時(shí)配備了12M像素的高速相機(jī),檢測(cè)速度更快、圖像更加細(xì)膩豐富;操作系統(tǒng)按使用者級(jí)別**化的界面結(jié)構(gòu)來(lái)強(qiáng)化易操作性,同時(shí)提高了檢測(cè)結(jié)果確認(rèn)及處理功能,操作員可迅速地處理數(shù)據(jù),利用實(shí)際圖片的不良信息界面讓操作員不需與實(shí)際板子比較就可容易地確認(rèn)不良。ALD6710S是高速、高精度生產(chǎn)線的理想選擇!
專業(yè)鏡頭式設(shè)計(jì)的光源,使圖像更加均勻、細(xì)膩,大大提高檢測(cè)的穩(wěn)定性。
**設(shè)計(jì)的雙方向提射光系統(tǒng)技術(shù),使測(cè)量的精度更高、測(cè)量范圍更大,**解決檢測(cè)過(guò)程中的陰影問(wèn)題與亂反射問(wèn)題。
編程調(diào)試更簡(jiǎn)易化,導(dǎo)入Gerber作為標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù),可在10分鐘內(nèi)投入測(cè)試。
具有3維補(bǔ)償功能, 利用多周期測(cè)量技術(shù)的Z-Tracking功能,測(cè)量針對(duì)基準(zhǔn)面發(fā)生的扳彎差異實(shí)時(shí)補(bǔ)償。
測(cè)試參數(shù)大大減少,可輕松解決白線干擾問(wèn)題。
操作系統(tǒng)按使用者級(jí)別**化的界面結(jié)構(gòu)提高了檢測(cè)結(jié)果確認(rèn)及處理功能。
ALeader 3D SPI及AOI檢測(cè)數(shù)據(jù)可保存到中央數(shù)據(jù)庫(kù),在AOI Review Station上同時(shí)顯示并判斷印刷結(jié)果及貼片結(jié)果,爐后結(jié)果。
基于準(zhǔn)確的3維測(cè)量數(shù)據(jù),操作員可在短期內(nèi)優(yōu)化整個(gè)工程。
高**性歐洲深度定制的微米級(jí)投射光系統(tǒng)及圖像采集系統(tǒng),配臺(tái)ALeader**的測(cè)量技術(shù),能確保極高的測(cè)量精度,并****了PCB任一測(cè)量點(diǎn)的高**性。 1無(wú)論測(cè)量點(diǎn)處于FOV任一位置,測(cè)量點(diǎn)的測(cè)量精度均** |
2無(wú)論P(yáng)CB是否彎曲,測(cè)量點(diǎn)的測(cè)試精度均**。 |
快速編程編程調(diào)試更簡(jiǎn)易化,導(dǎo)入Gerber自動(dòng)生成檢測(cè)程序 |
操作員使用便利性極大化的新界面以按使用者級(jí)別**化的界面結(jié)構(gòu)及智能型界面。更加強(qiáng)化易操作性。而且提高了檢測(cè)結(jié)果確認(rèn)及處理功能,操作員可迅速地處理數(shù)據(jù)以及一目了然地看到檢測(cè)數(shù)據(jù)。 利用實(shí)際圖片不良信息界面,不需與實(shí)際板子比較可容易地確認(rèn)不良。 |
云計(jì)算分析管理ALeader 3D SPI及AOI測(cè)數(shù)據(jù)保存到中央數(shù)據(jù)庫(kù),在AOI上同時(shí)顯示并判斷印刷結(jié)果及貼片結(jié)果,爐后結(jié)果。基于準(zhǔn)確的3維測(cè)量數(shù)據(jù)操作員可在短期內(nèi)優(yōu)化整個(gè)制程。 |
應(yīng)用范疇ALeader 3D SPI除了可以測(cè)量錫膏工藝以外還可測(cè)量紅膠工藝 |
印刷機(jī)閉環(huán)控制 |
大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)管理Tool利用SPC,基于測(cè)量結(jié)果提供多種統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。 |
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