詳細介紹
GB/T 1410-2006 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法（IEC 60093:1980，IDT）
機械法單層法原理，根據ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光學計或其他儀器測量單張試樣的厚度。
方法B適用于較寬的薄膜大于或等于150mm，其變形主要表現為凹陷。對于很厚的薄膜，由于其變形主要表現為凹陷。
JB/T 3283-1999 固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿性能試驗方法（eqv IEC 60343:1991）
IEC 60260:1968 非注入式恒定相對濕度試驗箱
從而會出現**總平面的凹陷部分，規定兩種方法測量變形：方法A適用于窄的薄膜小于150mm，其變形主要表現為偏移/弧形；
相對濕度50%±5%的條件下至少放置24h，取好的試樣應在該條件下處理1h。試驗條件除非產品標準或本部分中個別試驗另有規定外。
根據測定的質量、面積和密度計算樣品的厚度，測量儀器分析天平感量0.1mg，鋼板尺分度值0.5mm。
取其平均值作為試驗結果，并報告**值和**小值。重量法（質量密度法）原理按ISO4591:1991中的部分。
ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 長度和寬度的測定
測量儀器薄膜厚度小于100μm時，用立式光學計或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm~50mm的球面測帽。
精度不**0.2μm，薄膜厚度大于等于15μm但小于100μm時，精度不**1μm；薄膜厚度大于或等于100μm，精度不**2μm。
IEC 61074:1991 用差示掃描量熱法測定電氣絕緣材料熔融熱、熔點及結晶熱、結晶溫度的試驗方法
并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板推薦尺寸為：250mm×200mm。其中200mm為板的長度方向尺寸。
并報告**值和**小值，疊層法測量儀器千分尺：精度為1μm，直徑為6mm的平面測帽，測力為6N~10N。
試驗應在溫度23℃±2℃、相對濕度50%±5%、環境潔凈度不大于10000級的條件下進行。厚度應按產品標準要求采用下列規定中的一種或幾種方法進行測定。
按ISO 4593:1993的要求，測量試樣的厚度。在試樣上等距離共測量27點，兩測量點間距不少于50mm。
GB/T 1033.1-2008 塑料 非泡沫塑料密度的測定 部分：浸漬法、液體比重瓶法和滴定法（ISO 1183-1:2004，IDT）
沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜當膜卷寬度小于400mm時，可適當多取幾條，試樣不應有皺折或其他缺陷。
GB/T 7196-1987 用液體萃取測定電氣絕緣材料離子雜質的試驗方法（eqv IEC 60680:1977）
測量壓力為0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100μm時，可用千分尺測量。儀器精度要求：薄膜厚度小于15μm時。
GB/T 13542 的本部分規定了電氣絕緣用薄膜的試驗方法，適用于電氣絕緣和薄膜。
GB/T 11026.1-2003 電氣絕緣材料 耐熱性 部分：老化程序和試驗結果的評定（IEC60216-1:2001，IDT）
h——試樣的厚度，單位為微米（μm）；m——試樣的質量，單位為克（g）；s——試樣的面積，單位為平方厘米（cm2）；
d——試樣的實測密度，單位為克每立方厘米（g/cm3）。取三個計算值的中值作為試驗結果，結果取三位有效數字。
GB/T 10582-2008 電氣絕緣材料 測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗方法（IEC 60426:2007，IDT）
這兩種變形是：偏移/弧形：薄膜平整地展開時，其邊緣不呈直線；凹陷：薄膜的局部面積因受拉伸。
GB/T 11999-1989 塑料薄膜和薄片耐撕裂性試驗方法 埃萊門多夫法（eqv ISO 6383-2:1983）
并按性能要求進行制樣，預處理條件除非產品標準或本部分中個別試驗另有規定外，取樣前樣品薄膜卷應在23℃±2℃。
測量在薄膜卷上取三片長方形試樣，每片質量約300mg。用鋼板尺測量試樣面積，用分析天平測量試樣質量。
GB/T 10006-1988 塑料薄膜和薄片摩擦系數測定方法（idt ISO 8295:1986）
薄膜疊層試樣的數量為四個，每個疊層試樣由12層薄膜組成，其制備方法如下：從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時切取。
對未切邊的膜卷，測量點應離薄膜邊緣50mm，對已切邊的卷，測量點應離薄膜邊緣2mm。取27個測量值的中值作為試驗結果。
ISO 4591:1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技術（重量分析厚度）測定試樣的平均厚度和整卷的平均厚度和量度
GB/T 1409-2006 測定電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法（IEC 60250:1969，MOD）
GB/T 11026.4-1999 確定電氣絕緣材料耐熱性的導則 第4部分：老化烘箱 單室烘箱（idt IEC 60216-4-1:1990）
在測量之前去掉疊層的**外層和**內層實際測量十層，再進行測量。結果疊層試樣測量厚度除以10，得到單層薄膜厚度。
GB/T 10580-2003 固體絕緣材料試驗前和試驗時采用的標準條件（IEC 60212:1971，IDT）
ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 機械掃描測定厚度
卷繞性（偏移/弧形或凹陷）原理用于評定成卷供貨的薄膜的變形情況。薄膜的變形可能有兩種形式，它們會影響以后使用時的繞包性。
沿樣品縱向取5m使薄膜處于放松狀態1h后，沿縱向等距離測定寬度五次。記錄每一寬度測定值，取中值作為該卷的寬度。
按本部分第5章規定測量試樣的密度，結果每個測量值的結果按式（1）計算：…………（1）
取樣、預處理條件和試驗條件，從薄膜卷上取樣時，應至少先剝去**外三層薄膜，取樣時的環境條件同試驗條件。
GB/T 11026.2-2000 確定電氣絕緣材料耐熱性的導則 部分：試驗判斷標準的選擇（idt IEC 60216-2:1990）
GB/T 11026.3-2006 電氣絕緣材料耐熱性 部分：計算耐熱性特征參數的規程（IEC 60216-3:2002，IDT）
用重量法測定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的部分，根據膜卷的長度、平均寬度和凈重以及薄膜的密度計算平均厚度。
GB/T 1408.1-2006 絕緣材料電氣強度試驗方法 部分：工頻下試驗（IEC 60243-1:1998）
橫向厚度分布和縱向厚度變化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的規定，寬度按ISO4592:1992中部分規定測定。
機械法單層法原理，根據ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光學計或其他儀器測量單張試樣的厚度。
方法B適用于較寬的薄膜大于或等于150mm，其變形主要表現為凹陷。對于很厚的薄膜，由于其變形主要表現為凹陷。
JB/T 3283-1999 固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿性能試驗方法（eqv IEC 60343:1991）
IEC 60260:1968 非注入式恒定相對濕度試驗箱
從而會出現**總平面的凹陷部分，規定兩種方法測量變形：方法A適用于窄的薄膜小于150mm，其變形主要表現為偏移/弧形；
相對濕度50%±5%的條件下至少放置24h，取好的試樣應在該條件下處理1h。試驗條件除非產品標準或本部分中個別試驗另有規定外。
根據測定的質量、面積和密度計算樣品的厚度，測量儀器分析天平感量0.1mg，鋼板尺分度值0.5mm。
取其平均值作為試驗結果，并報告**值和**小值。重量法（質量密度法）原理按ISO4591:1991中的部分。
ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 長度和寬度的測定
測量儀器薄膜厚度小于100μm時，用立式光學計或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm~50mm的球面測帽。
精度不**0.2μm，薄膜厚度大于等于15μm但小于100μm時，精度不**1μm；薄膜厚度大于或等于100μm，精度不**2μm。
IEC 61074:1991 用差示掃描量熱法測定電氣絕緣材料熔融熱、熔點及結晶熱、結晶溫度的試驗方法
并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板推薦尺寸為：250mm×200mm。其中200mm為板的長度方向尺寸。
并報告**值和**小值，疊層法測量儀器千分尺：精度為1μm，直徑為6mm的平面測帽，測力為6N~10N。
試驗應在溫度23℃±2℃、相對濕度50%±5%、環境潔凈度不大于10000級的條件下進行。厚度應按產品標準要求采用下列規定中的一種或幾種方法進行測定。
按ISO 4593:1993的要求，測量試樣的厚度。在試樣上等距離共測量27點，兩測量點間距不少于50mm。
GB/T 1033.1-2008 塑料 非泡沫塑料密度的測定 部分：浸漬法、液體比重瓶法和滴定法（ISO 1183-1:2004，IDT）
沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜當膜卷寬度小于400mm時，可適當多取幾條，試樣不應有皺折或其他缺陷。
GB/T 7196-1987 用液體萃取測定電氣絕緣材料離子雜質的試驗方法（eqv IEC 60680:1977）
測量壓力為0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100μm時，可用千分尺測量。儀器精度要求：薄膜厚度小于15μm時。
GB/T 13542 的本部分規定了電氣絕緣用薄膜的試驗方法，適用于電氣絕緣和薄膜。
GB/T 11026.1-2003 電氣絕緣材料 耐熱性 部分：老化程序和試驗結果的評定（IEC60216-1:2001，IDT）
h——試樣的厚度，單位為微米（μm）；m——試樣的質量，單位為克（g）；s——試樣的面積，單位為平方厘米（cm2）；
d——試樣的實測密度，單位為克每立方厘米（g/cm3）。取三個計算值的中值作為試驗結果，結果取三位有效數字。
GB/T 10582-2008 電氣絕緣材料 測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗方法（IEC 60426:2007，IDT）
這兩種變形是：偏移/弧形：薄膜平整地展開時，其邊緣不呈直線；凹陷：薄膜的局部面積因受拉伸。
GB/T 11999-1989 塑料薄膜和薄片耐撕裂性試驗方法 埃萊門多夫法（eqv ISO 6383-2:1983）
并按性能要求進行制樣，預處理條件除非產品標準或本部分中個別試驗另有規定外，取樣前樣品薄膜卷應在23℃±2℃。
測量在薄膜卷上取三片長方形試樣，每片質量約300mg。用鋼板尺測量試樣面積，用分析天平測量試樣質量。
GB/T 10006-1988 塑料薄膜和薄片摩擦系數測定方法（idt ISO 8295:1986）
薄膜疊層試樣的數量為四個，每個疊層試樣由12層薄膜組成，其制備方法如下：從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時切取。
對未切邊的膜卷，測量點應離薄膜邊緣50mm，對已切邊的卷，測量點應離薄膜邊緣2mm。取27個測量值的中值作為試驗結果。
ISO 4591:1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技術（重量分析厚度）測定試樣的平均厚度和整卷的平均厚度和量度
GB/T 1409-2006 測定電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法（IEC 60250:1969，MOD）
GB/T 11026.4-1999 確定電氣絕緣材料耐熱性的導則 第4部分：老化烘箱 單室烘箱（idt IEC 60216-4-1:1990）
在測量之前去掉疊層的**外層和**內層實際測量十層，再進行測量。結果疊層試樣測量厚度除以10，得到單層薄膜厚度。
GB/T 10580-2003 固體絕緣材料試驗前和試驗時采用的標準條件（IEC 60212:1971，IDT）
ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 機械掃描測定厚度
卷繞性（偏移/弧形或凹陷）原理用于評定成卷供貨的薄膜的變形情況。薄膜的變形可能有兩種形式，它們會影響以后使用時的繞包性。
沿樣品縱向取5m使薄膜處于放松狀態1h后，沿縱向等距離測定寬度五次。記錄每一寬度測定值，取中值作為該卷的寬度。
按本部分第5章規定測量試樣的密度，結果每個測量值的結果按式（1）計算：…………（1）
取樣、預處理條件和試驗條件，從薄膜卷上取樣時，應至少先剝去**外三層薄膜，取樣時的環境條件同試驗條件。
GB/T 11026.2-2000 確定電氣絕緣材料耐熱性的導則 部分：試驗判斷標準的選擇（idt IEC 60216-2:1990）
GB/T 11026.3-2006 電氣絕緣材料耐熱性 部分：計算耐熱性特征參數的規程（IEC 60216-3:2002，IDT）
用重量法測定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的部分，根據膜卷的長度、平均寬度和凈重以及薄膜的密度計算平均厚度。
GB/T 1408.1-2006 絕緣材料電氣強度試驗方法 部分：工頻下試驗（IEC 60243-1:1998）
橫向厚度分布和縱向厚度變化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的規定，寬度按ISO4592:1992中部分規定測定。
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