CME-Mo系列光譜儀/單色儀特點：
◆ 150mm，300mm，500mm，750mm等多種焦距可選，適應不同光譜帶寬需求；
◆光學結構采用經典的Czerny-Turner結構，有效改善譜線對稱性和提高光學分辨率，消二次色散設計，有效抑制雜散光；
◆多光柵塔臺設計，更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢，并可根據需要組合以滿足不同；
◆光柵采用大面積光柵，有效提高了收集光效率；
◆多種光柵可以選擇，適應不同光譜波段，覆蓋UV-VIS-IR范圍；
◆針對紅外（>1μm）波段的***化設計，光學鏡片采用鍍金膜設計，提高紅外光反射效率；
◆儀器的控制（如光柵轉換、波長掃描等）全部由計算機控制；
◆全新的DSP芯片設計使得出入口的選擇更加具有靈活性，可根據需要選擇雙入-出口；雙入-出口的控制通過計算機軟件自動控制，定位更精準；
◆可連接我公司任意一款單點探測器和其它附件，還可以連接線陣、面陣探測器做攝譜儀使用。與光源、探測器（單點探測器和陣列CCD等）組合搭建，實現任意光譜系統組合方案，如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光譜系統等；
◆配有充氮氣口，便于在紫外和近紅外有大氣吸收譜的波段范圍內使用；
◆光學室和機械傳動室嚴格分開，避免后者產生雜散光及潤滑油微量揮發對光學件的污染；
◆可選：自動濾光輪、電子快門、自動狹縫。
技術參數表（@1200g/mm光柵條件下）
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CME-Mo150 |
CME-Mo300 |
CME-Mo500 |
CME-Mo750 |
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λ焦距(mm) |
150 |
300 |
500 |
750 |
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相對孔徑 |
f/4.2 |
f/3.9 |
f/6.5 |
f/9.7 |
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光學結構 |
C-T |
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機械掃描范圍(nm) |
0-2200 |
0-3200 |
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分辨率(nm) |
0.4 |
0.1 |
0.05 |
0.03 |
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倒線色散(nm/mm) |
5.4 |
2.7 |
1.7 |
1.1 |
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波長準確度(nm) |
±0.25 |
±0.2 |
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波長重復性(nm) |
±0.1 |
±0.1 |
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掃描步距(nm) |
0.01 |
0.005 |
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焦面尺寸(mm) |
25(W)×10(H) |
25(W) ×14(H) |
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光軸高度(mm) |
134 |
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狹縫規格 |
縫寬：0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫；縫高：2，4，10，14mm可選。 |
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光柵尺寸(mm) |
32×32 |
68×68 |
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光柵臺 |
雙光柵 |
三光柵 |
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外型尺寸(mm) |
298×200×185 |
390×278×204 |
560×320×204 |
800×450×204 |
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重量(kg) |
10 |
16 |
22 |
32 |
光路圖：
應用軟件：
◆ 任意的波長定位功能 任意的波長定位功能使得用戶可以自由地定位到目標波長位置，方便用戶做波長分析。
1. 由選擇已安裝的光柵進行切換，并可以設定各塊光柵的切換位置。
2. 256 個等級的運行速度選擇。
3. 波長定位功能 ：目標方式，相對移動方式。
4. 光譜儀調試運行過程中，用戶隨時可以停止光譜儀的運行。
◆ 濾光片的自動選擇功能 在波長掃描過程中，濾光片組會自動選擇一檔合適的濾光片，使得譜儀能夠自動進行多級光譜濾波的功能。
1. 用戶可以自由設定濾光片的定位位置。
2. 用戶可以自由設定濾光片的工作范圍。
◆ 開機自動定位功能 用戶可以設定儀器的開機定位位置 ：上次關機的位置或者位置。
◆ 光譜掃描功能
3. 能一次控制多臺設備即
4. 掃描方案可單光柵、連續光柵或跨光柵對各個波段進行順序掃描。
5. 掃描方案中起始波長、掃描間隔、終止波長由客戶自由設定。
6. 用戶可以隨時終止掃描狀態。
7. 可以對波長進行多次采樣，測定穩定度。
8. 采集到的數據可同時圖譜顯示和表格顯示。
9. 可以自由地對圖譜中的數據曲線可以進行任意地放大和縮小，隱藏和顯示。
10. 譜線數據可以直接拷貝然后粘貼到 Excel 中，使用戶能夠進行更多的***處理功能。
11. 用戶可以觀察任一曲線上任一點的坐標值。
常用配件（氙燈光源必配）：六檔濾光片輪
濾光片輪為光譜儀系列配套產品，可用于消除多級光譜，與我公司生產的系列單色儀/光譜儀配套使用，
在啟用狀態可自動歸零定位，實現掃描過程中的濾光片自動更換，在非啟用狀態可手動控制。
濾光片輪安裝3塊長波通濾光片，***檔為空，不安裝任何濾光片，到第四檔標準配置濾光片材料分別為ZJB320, CB535, HWB850，使用范圍185-1800nm，第五和六檔為預留濾光片孔，可以安裝任何濾光片。
重量：0.7kg
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