蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra 高分辨率，更高對比度，更快

蔡司三維X射線顯微鏡 3D成像無損檢測解決方案在實驗室儀器中提供世界上的非破壞性3D X射線成像，分辨率低至50 nm。除了吸收和Zernike相位對比外，蔡司Xradia 810 Ultra采用了從同步加速器改進的光學系統，為您的研究提供業界*佳的分辨率和對比度。這種創新儀器通過為您的傳統成像工作流程添加關鍵的非破壞性步驟，實現了突破性研究。

通過為5.4 keV的研究提供更高的對比度，Xradia 810 Ultra可以為各種難以成像的材料提供高分辨率的X射線成像。通過吸收和相襯來優化您的成像，適用于各種材料，如聚合物，氧化物，復合材料，燃料電池，地質樣品和生物材料。 ZEISS XRM在同步加速器和全球實驗室設施中率行了納米級X射線成像，提供了突破性的解決方案，幫助您將研究放在研究的*前沿。

通過使納米級X射線成像速度提高一個數量級，Xradia 810 Ultra可以優化XRM的商業案例，無論您的工作是針對科學還是工業。對于中央顯微鏡實驗室而言，更快的工作流程轉化為允許更多用戶在更短的時間內利用儀器的能力，從而將XRM擴展到更廣泛的用戶群。同樣，您可以快速執行和重復內部結構的4D和原位研究，使這些技術適用于更多應用。如果您的應用非常有針對性，例如用于探索石油和氣開采可行性的數字巖石物理，Xradia 810 Ultra可提供可用于在幾小時內表征關鍵參數(如孔隙度)的測量數據。